詳細摘要： 德國Sentech集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統研發三到六個端口傳送腔室可用于集成ICP等離子刻蝕機、RIE刻蝕機、原子層沉積系統、PECVD和ICPECVD沉...
產品型號：所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言污水處理設備 污泥處理設備 水處理過濾器 軟化水設備/除鹽設備 純凈水設備 消毒設備|加藥設備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設備
深圳市科時達電子科技有限公司
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詳細摘要： 德國Sentech集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統研發三到六個端口傳送腔室可用于集成ICP等離子刻蝕機、RIE刻蝕機、原子層沉積系統、PECVD和ICPECVD沉...
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詳細摘要： 德國DienerPECVD等離子體化學氣相沉積設備該PECVD系統可以沉積高質量SiO2薄膜、Si3N4薄膜、類金剛石薄膜、硬質薄膜、光學薄膜等
產品型號：TETRA240所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 超低溫磁場探針臺半自動真空低溫探針臺使晶圓和器件在低溫下9k(singleCCR系統)、4.5K(dualCCR系統)甚至低于4K(tripleCCR系統)的情...
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詳細摘要： 適用于多種晶圓量測應用?模塊量測-DC-IV
產品型號：TS3500 Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： TS3000ProbeSystem半自動300mm探針臺測試系統?模塊量測-DC-IV/DC-CV/Pulsed-IV?高溫度范圍-60°C至300°C?大的靈...
產品型號：TS3000 Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 霍爾效應測試系統HEMS測量包括：?遷移率測試?DCHEMS:10^6cm2/Vsto10cm2/Vs?ACHEMS:10cm2/Vsto0
產品型號：HEMS所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 振動樣品磁強計VSM振動樣品磁強計VSM?振動頭振動頻率(校準):1-100Hz?VSM振蕩幅度范圍：0.1mm-5mm?大樣品直徑：6mm?適用于液體、粉末、...
產品型號：所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 霍爾效應測試系統EzHEMS?電阻率測量范圍:10-4-109?·cm(取決于樣本)?遷移率:1-107cm2/V·S(取決于樣本)?載流子濃度:107-102...
產品型號：EzHEMS所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： TS2000-HPProbeSystem半自動化探針臺測試系統MPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量，*的Shi...
產品型號：TS2000-HP Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 適用于多種晶圓量測應用，?如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓可靠性(WLR)和失效分析(FA)MPIShielDEnvironment™屏蔽環...
產品型號：TS200-SE Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 布魯克Bruker三維光學輪廓儀ContourX-500ContourX-500光學輪廓儀是功能面的自動化臺式系統，可快速完成非接觸式三維表面計量
產品型號：ContourX-500所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： ThermoScientificIntegrion高壓離子色譜耐壓zui高的離子色譜泵
產品型號：Integrion所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 布魯克Bruker三維光學輪廓儀ContourGT-XContourGT-X三維光學輪廓儀提供高性能非接觸表面測量，適用于實驗室研究和生產過程控制
產品型號：ContourGT-X所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： WB-200半自動引線鍵合機可進行球焊、鍥焊、金線鍵合、跳焊(Pump)技術規格特點：-鍥焊、球焊、跳焊;-半自動和手動鍵合模式;-焊線直徑：17μm-50μm...
產品型號：WB-200所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 布魯克Bruker光學輪廓儀ContourX-200ContourX-200光學輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類產品中、最準...
產品型號：ContourX-200所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： TheHysitronPI89掃描電鏡聯用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試
產品型號：PI 89所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 布魯克Bruker三維光學輪廓儀ContourSP大面板計量系統融合了十余年封裝光學表征專業技術，使高密度互連PCB（HDI-PCB）基板的測量效率比上一代白光...
產品型號：ContourSP所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 美國Agilent7890B氣相色譜儀產品特性：●載氣選件：氦氣節省模塊、氫氣傳感器和替代載氣解決方案可以顯著降低氦氣的使用量，提高實驗室分析的靈活性
產品型號：7890B所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 賽默飛三重四極桿液質聯用儀TSQQuantumUltraTSQQuantumUltra同時進行定量分析和定性確證，增強定量數據關聯二級掃描(QED-MS/MS)...
產品型號：TSQ Quantum Ultra所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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